比長儀
以不接觸光學定位方法瞄準被測長度,主要用于測量線紋距離的精密長度測量工具。
比長儀一般采用測量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準定位部件,并以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度,與被測長度比較而確定量值。比長儀主要用于檢定線紋尺,測量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離,也可用于測量孔徑。
比長儀按結(jié)構(gòu)布局分為縱向的和橫向的兩類。縱向比長儀采用線紋尺作為已知長度,且結(jié)構(gòu)設(shè)計符合阿貝原則(見長度測量工具),稱為阿貝比長儀(見圖[阿貝比長儀])。測量時,先用測量顯微鏡瞄準被測線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得一數(shù)值。然后移動工作臺,再用測量顯微鏡瞄準另一被測線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得另一數(shù)值。這兩個數(shù)值之差即是被測兩線條間距離。橫向比長儀的被測長度和已知長度是并列布置的,這種布局可以縮短導軌長度,但要求導軌精度高。采用愛賓斯坦光學系統(tǒng),可以補償結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者,稱為光電比長儀;采用激光或其他單色光波長作為已知長度者,分別稱為激光比長儀和光電光波比長儀。阿貝比長儀的測量精確度為±1~±1.5微米/200毫米,光電比長儀可達到±0.5微米/1000毫米,而光電光波比長儀和激光比長儀則可達到±0.2微米/1000毫米。
2、將被測試體擦凈,一端釘頭放入比長儀下測頭球面孔內(nèi),另一端釘頭輕輕放入比長儀上測頭的球面孔內(nèi)。
3、左右旋轉(zhuǎn)被測體,使試體與比長儀下測頭良好接觸。檢查比長儀上下測頭球面孔內(nèi)是否有砂粒等臟物。
4、測量試體讀數(shù)時,首先讀表盤內(nèi)小表針所指示的數(shù)值,然后再讀大表針所指示的數(shù)值。
5、比長儀是一種精密的測量儀器,在使用過程中一定要輕拿輕放,保持整潔。
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