gb/t 2423.1-2008/iec60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)a:低溫試驗(yàn)
本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱里兩類試驗(yàn)樣品.本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來考核確定電工,電子產(chǎn)品(包括元件,設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的環(huán)境適應(yīng)性.
低溫試驗(yàn)不能用來考核試驗(yàn)樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力,在這種情況下,應(yīng)選擇溫度變化試驗(yàn)方法.
非散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn):溫度突變和溫度漸變試驗(yàn)2種類型;
散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn): 溫度漸變試驗(yàn)一種類型.
本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品.試驗(yàn)持續(xù)時間從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時開始計(jì)算.在特殊情況下,如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定,則試驗(yàn)持續(xù)時間從試驗(yàn)箱達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時開始計(jì)算.
非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變或溫度漸變的低溫試驗(yàn)嚴(yán)酷等級的選擇:
零下65攝氏度
零下55攝氏度
零下40攝氏度
零下25攝氏度
零下10攝氏度
零下5攝氏度
零上5攝氏度
溫度范圍可以正負(fù)偏差3度,試驗(yàn)的持續(xù)時間一般有:2h,16h,72h,96h.或根據(jù)產(chǎn)品自身的使用環(huán)境選擇試驗(yàn)時間。若試驗(yàn)?zāi)康膬H僅是檢查試驗(yàn)樣品在低溫時是否正常工作，則試驗(yàn)的時間只限于使樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定。
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機(jī)械工業(yè)儀器儀表綜合技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究所測量控制設(shè)備及系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室 （簡稱MCDL）、機(jī)械工業(yè)測量控制設(shè)備及網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量檢測中心（簡稱TCDN）成立于2006年，隸屬于機(jī)械工業(yè)儀器儀表綜合技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究所，專業(yè)從事PROFIBUS、MODBUS、KNX、安全、EMC、功能安全等領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)研究制定、檢測、認(rèn)證工作，屬非營利的中立第三方檢測機(jī)構(gòu)。設(shè)有多個檢測試驗(yàn)室，擁有各類先進(jìn)檢測儀器設(shè)備四百多臺套，高級工程師、博...
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